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设计服务中心实验室可以提供基于wafer和封装测试样片的工程分析测试
。其中测试样片包含SOC，非遗失性存储器和单元库IP，高速数字接口IP，混合信号以及射频IP
。实验室同样可以提供DIP, COB, QFP等快速封装服务
。

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